AMH55
Sistema de Ensayos de Dureza Automatizados

Maximice su productividad y mida fácilmente las impresiones en condiciones de superficie diversas para una gran cantidad de aplicaciones con el nuevo AMH55 de LECO. El AMH55 presenta el innovador Cornerstone® Brand Software de LECO en nuestras plataformas de ensayo de dureza, para una mayor facilidad de uso, informes simplificados y tiempos de análisis optimizados. El AMH55, que admite ensayos de microdureza y Macro/Vickers precisas y eficientes en configuraciones totalmente automáticas, semiautomáticas y ligeras, es un recurso útil para los usuarios que necesitan pruebas de dureza precisas y productivas, a la vez que adaptan los datos y resultados a sus necesidades.

Características

La tecnología avanzada de reconocimiento de imágenes permite el análisis de información no disponible con métodos limitados basados en umbrales.
Mide impresiones con diversas condiciones de superficie, incluidas superficies rayadas/grabadas/iluminadas de manera desigual.
Cornerstone^® Brand Software, con interfaz de pantalla táctil disponible, le da al usuario un control completo sobre los parámetros de análisis, la configuración de los métodos, las calibraciones, los informes y más, para que las pruebas se puedan adaptar a una aplicación específica.
Elija la configuración de modelo que mejor se adapte a sus necesidades:
- AMH55 automático
  - Alineación automática simultánea y herramientas parfocales automáticas, así como calibración automática de píxeles y corrección de sombreado
  - Módulo de análisis avanzado opcional para mapeo con contornos de color
  - Informes de datos personalizables
  - Movimiento motorizado de los ejes X, Y y Z
- AMH55 semiautomático
  - Localización y análisis automático de sangrías, alineación automática y calibración de píxeles
  - Informes de datos personalizables
  - Eje motorizado X e Y
  - Enfoque manual
- AMH55 Lite
  - Localización y análisis automático de sangrías dentro de un campo de visión
  - Calibración automática de píxeles
  - Informes de datos personalizables
  - Ejes X, Y y Z manuales con micrómetros de fase digital opcionales para rastrear el movimiento de la fase
  - Actualizable a AMH55 automático o semiautomático